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LET-5000系列半導(dǎo)體靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)-又色又爽又黃的視頻免費(fèi),日韓有碼國(guó)產(chǎn)精品

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力鈦科LETAK功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),集多種測(cè)量功能一體,可以精準(zhǔn)測(cè)量不同封裝類型功率器件(如MOSFET、BJT、IGBT,以及SiC、GaN第三代半導(dǎo)體等)的靜態(tài)參數(shù),具有高電壓和大電流特性、μΩ級(jí)導(dǎo)通電阻測(cè)量、nA級(jí)漏電流測(cè)量能力等特點(diǎn)。支持高壓模式下功率器件結(jié)電容測(cè)試,如輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容等。


系統(tǒng)參數(shù)>>>

項(xiàng)目

參數(shù)

范圍

精準(zhǔn)度


集電極-發(fā)射極

電壓

300V -- 8000V

±0.1%


電流

5A -- 6000A

±0.1%


電壓上升沿    

5ms

N/A


電流上升沿

15μs

N/A


低電壓脈寬

1ms

±100uS


電流脈寬

50μs~500μs

±5μs


漏電流測(cè)試范圍

1nA~100mA



柵極-發(fā)射極

電壓

0--300V

±0.1%


電流

0--30

±0.1%


電壓分辨率

30μV

N/A


電流分辨率

1pA

N/A


電容測(cè)試

頻率范圍

10Hz~1MHz

±0.01%


電容值范圍

0.01pF~9.9999F

±0.05%




硬件優(yōu)勢(shì)>>>

力鈦科LETAK功率器件靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng),配置有多種測(cè)量單元模塊,模塊化的設(shè)計(jì)測(cè)試方法靈活,能夠極大方便用戶添加或升級(jí)測(cè)量模塊,適應(yīng)測(cè)量功率器件不斷變化的需求。

■ 高電壓達(dá)8000V(可擴(kuò)展至10kV)

■ 大電流達(dá)6000A(多模塊并聯(lián))

■ nA級(jí)漏電流μΩ級(jí)導(dǎo)通電阻

■ 高精度測(cè)量0.1%

■ 模塊化配置可添加或升級(jí)測(cè)量單元

■ 測(cè)試效率高、自動(dòng)切換、一鍵測(cè)試

■ 兼容多種封裝根據(jù)測(cè)試需求定制夾具


軟件特點(diǎn)>>>

■ 測(cè)試主機(jī)內(nèi)部采用的電壓、電流測(cè)量單元,均采用多量程設(shè)計(jì),測(cè)試精度為0.1%

■ 可支持8000V電壓輸出,且自帶漏電流測(cè)量功能

■ 柵極-發(fā)射極,支持30V/10A脈沖電流輸出與測(cè)試,可測(cè)試低至pA級(jí)漏電流

■ 電容特性測(cè)試包括輸入電容、輸出電容、以及反向傳輸電容測(cè)試,頻率Zui高支持1MHz

■ 集電極-發(fā)射極,可支持6000A高速脈沖電流,典型上升時(shí)間為15us,且具備電壓高速同步采樣功能


測(cè)試夾具>>>

針對(duì)市面上不同封裝類型的硅基功率半導(dǎo)體,IGBT、SiC、MOS、GaN等產(chǎn)品,力鈦科提供整套測(cè)試夾具解決方案,可用于TO單管,半橋模組等產(chǎn)品的測(cè)試,后期可根據(jù)客戶需求來(lái)定制化相對(duì)應(yīng)封裝。


關(guān)鍵詞

晶體管測(cè)試儀 , 靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng) , IV曲線 , CV曲線 , 電容測(cè)試

更新時(shí)間
統(tǒng)一社會(huì)信用代碼
91440300305962665B

主營(yíng)產(chǎn)品

半導(dǎo)體功率器件測(cè)試設(shè)備

公司簡(jiǎn)介

深圳力鈦科技術(shù)有限公司(ShenzhenLetak Technology Co.,Ltd,簡(jiǎn)稱力鈦科)成立于2014年,是一家集研發(fā)、生產(chǎn)和銷售為一體的高新技術(shù)企業(yè)。專注于功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備開發(fā)和應(yīng)用,推出了靜態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)、功率半導(dǎo)體動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)、半導(dǎo)體可靠性試驗(yàn)系統(tǒng)、半導(dǎo)體器件TDDB試驗(yàn)系統(tǒng)等半導(dǎo)體測(cè)試和試驗(yàn)設(shè)備。...

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