光電子器件是支撐半導(dǎo)體照明、顯示、光通信、傳感等領(lǐng)域的核心元器件，其發(fā)光效率是衡量器件光電轉(zhuǎn)換性能的關(guān)鍵指標(biāo)，直接決定產(chǎn)品的能耗水平、使用壽命及應(yīng)用場景適配性。光電子器件發(fā)光效率檢測是針對各類發(fā)光型光電子器件開展的專項(xiàng)光電性能測試，通過標(biāo)準(zhǔn)化手段精準(zhǔn)測定器件的外量子效率、光通量等核心指標(biāo)，可有效判定器件的性能優(yōu)劣，篩選符合要求的產(chǎn)品或原材料。檢測所得數(shù)據(jù)是產(chǎn)品質(zhì)量驗(yàn)收、工藝優(yōu)化、性能定級的核心依據(jù)，能夠有效規(guī)避因發(fā)光效率不達(dá)標(biāo)導(dǎo)致的產(chǎn)品能耗過高、壽命縮短、應(yīng)用受限等問題，為半導(dǎo)體照明、顯示面板、光通信等領(lǐng)域的產(chǎn)品研發(fā)與量產(chǎn)提供可靠技術(shù)支撐。
檢測范圍
半導(dǎo)體照明用發(fā)光二極管（LED）、顯示面板用有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）、激光通信用激光二極管（LD）、光電傳感用發(fā)光型光電二極管、光收發(fā)模塊用光電子器件、消費(fèi)電子用顯示發(fā)光器件
檢測項(xiàng)目
發(fā)光效率（外量子效率、內(nèi)量子效率）、光通量、發(fā)光強(qiáng)度、光譜功率分布、色坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)、壽命衰減率、驅(qū)動電壓、電流-電壓特性、熱阻、光學(xué)損耗、封裝氣密性
檢測標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 24824-2009 普通照明用LED模塊測試方法
GB/T 13729-2019 遠(yuǎn)場光學(xué)測試方法 發(fā)光二極管（LED）
GB/T 23130-2008 發(fā)光二極管（LED）光電參數(shù)測試方法
ISO 15366-1:2014 光學(xué)和光子學(xué) 發(fā)光二極管 第1部分：光電參數(shù)的測試方法
SJ/T 11281-2016 發(fā)光二極管（LED）測試方法
GB/T 39572-2020 有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）顯示器件光電性能測試方法
檢測流程
線上對接咨詢：客戶線上提交檢測需求，溝通光電子器件類型、發(fā)光效率相關(guān)檢測項(xiàng)目與報告用途
定制方案寄送樣品：根據(jù)需求制定專屬檢測方案，客戶寄送樣品，實(shí)驗(yàn)室登記留存并標(biāo)注樣品信息
實(shí)驗(yàn)室預(yù)處理檢測：樣品外觀檢查、電參數(shù)預(yù)測試，逐項(xiàng)開展發(fā)光效率及相關(guān)光電指標(biāo)檢測，記錄原始測試數(shù)據(jù)
數(shù)據(jù)復(fù)核出具報告：核對檢測數(shù)據(jù)，校準(zhǔn)測試偏差，審核完成后出具帶專業(yè)分析的檢測報告，提供技術(shù)咨詢服務(wù)
檢測周期
常規(guī)檢測：3-5個工作日出具報告
加急檢測：1-2個工作日出具報告
特殊試驗(yàn)：含壽命衰減、長期穩(wěn)定性等復(fù)雜項(xiàng)目，周期另行溝通確定
公司介紹
清析技術(shù)研究院可提供分析、檢測、測試、鑒定、研發(fā)等技術(shù)服務(wù)，服務(wù)領(lǐng)域涵蓋材料、化工、環(huán)境、食品、農(nóng)產(chǎn)品等。實(shí)驗(yàn)室設(shè)施完備，建有色譜分析室、光譜分析室、無機(jī)預(yù)處理室、熱處理室、有機(jī)預(yù)處理室；配置有HS-GCMS、PY-GCMS、GC-FID/ECD/TCD、ICP-OES、AAS、UV、金相顯微鏡、MICRO-IR、LC、XRF等儀器。我院總部位于北京，全國在上海、廣州、深圳、合肥、南京、成都、武漢、杭州、天津、濟(jì)南、鄭州、西安、沈陽等地區(qū)設(shè)立29家分院，擁有超過500名專業(yè)技術(shù)人員，20000㎡以上的實(shí)驗(yàn)及辦公場地。每年出具超過20000份報告，累計服務(wù)客戶45000多家，并且我院環(huán)境事業(yè)部入選第三次全國土壤普查檢測實(shí)驗(yàn)室名單。直屬機(jī)構(gòu)安徽清析司法鑒定所獲批司法廳頒發(fā)的司法鑒定許可證、并通過司法部司法鑒定科學(xué)研究院34項(xiàng)能力驗(yàn)證。
常見問題
問：光電子器件的外量子效率和內(nèi)量子效率有什么區(qū)別？如何通過檢測區(qū)分兩者？
答：外量子效率是器件輸出的光子數(shù)與注入器件的載流子數(shù)之比，反映器件終向外輸出的光性能；內(nèi)量子效率是器件有源層產(chǎn)生的光子數(shù)與注入載流子數(shù)之比，反映有源層的光電轉(zhuǎn)換能力。檢測時，外量子效率可通過光通量測試結(jié)合注入電流計算，內(nèi)量子效率需結(jié)合光提取效率的間接計算（如通過光提取效率測試或行業(yè)經(jīng)驗(yàn)值推導(dǎo)）區(qū)分，檢測過程需遵循GB/T23130-2008等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
問：檢測光電子器件發(fā)光效率時，不同驅(qū)動電流下的測試結(jié)果差異大嗎？應(yīng)如何選擇測試條件？
答：不同驅(qū)動電流下，光電子器件的載流子復(fù)合效率、熱效應(yīng)會發(fā)生變化，發(fā)光效率測試結(jié)果存在一定差異，通常驅(qū)動電流需選擇器件的額定工作電流或標(biāo)準(zhǔn)測試電流（如20mA），具體測試條件需根據(jù)器件的應(yīng)用場景確定，檢測時需在報告中明確標(biāo)注測試電流參數(shù)。
問：有機(jī)發(fā)光二極管（OLED）的發(fā)光效率檢測與普通LED的測試方法有何不同？對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)是什么？
答：OLED的發(fā)光層為有機(jī)材料，其發(fā)光效率檢測需考慮有機(jī)材料的電致發(fā)光特性、薄膜均勻性等，測試時需采用適合有機(jī)器件的遠(yuǎn)場光學(xué)測試方法，避免封裝層的光損耗干擾；普通LED的測試則側(cè)重?zé)o機(jī)半導(dǎo)體的光電轉(zhuǎn)換特性。對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)分別為GB/T39572-2020（OLED）和GB/T 23130-2008（LED）。
問：光電子器件的熱阻對其發(fā)光效率有何影響？檢測發(fā)光效率時是否需要同步測試熱阻？
答：光電子器件工作時產(chǎn)生的熱量會導(dǎo)致有源層溫度升高，降低載流子復(fù)合效率，進(jìn)而降低發(fā)光效率；熱阻是反映器件散熱能力的核心指標(biāo)，檢測發(fā)光效率時同步測試熱阻，可更準(zhǔn)確分析發(fā)光效率變化的原因，為器件工藝優(yōu)化提供依據(jù)，符合相關(guān)光電性能檢測的規(guī)范要求。
問：如何通過發(fā)光效率檢測結(jié)果評估光電子器件的長期壽命衰減趨勢？
答：可通過加速壽命試驗(yàn)結(jié)合發(fā)光效率的周期性檢測，建立發(fā)光效率隨時間的衰減模型，評估器件的長期壽命趨勢；檢測時需在恒定溫度、驅(qū)動電流條件下，定期測試器件的光通量或發(fā)光效率，直至其衰減至初始值的一定比例（如70%），依據(jù)SJ/T11281-2016等標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行。
問：光電子器件的封裝材料是否會影響其發(fā)光效率的檢測結(jié)果？檢測時需注意哪些封裝相關(guān)的干擾因素？
答：封裝材料的透光率、折射率會影響器件的光提取效率，進(jìn)而干擾發(fā)光效率的檢測結(jié)果；檢測時需注意封裝材料的透光性是否符合標(biāo)準(zhǔn)要求，避免封裝層的反射、吸收作用導(dǎo)致測試結(jié)果偏低，同時需確保測試時的光路對準(zhǔn)，減少封裝結(jié)構(gòu)帶來的光學(xué)損耗干擾。